更新時(shí)間:2024-09-25
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廠(chǎng)商性質(zhì):生產(chǎn)廠(chǎng)家
生產(chǎn)地址:
品牌 | 馬爾文帕納科 | 分散方式 | 干法分散 |
---|---|---|---|
價(jià)格區間 | 面議 | 儀器種類(lèi) | 動(dòng)態(tài)光散射 |
產(chǎn)地類(lèi)別 | 進(jìn)口 |
Insitec干法在線(xiàn)粒度儀概述
Insitec干法在線(xiàn)粒度儀提供全自動(dòng)化實(shí)時(shí)或手動(dòng)近線(xiàn)粒度測量,不管是連續或批量生產(chǎn),氣載或重力輸送的管道。 可監控的工藝范圍包括:研磨粉到食品、精細的化學(xué)品以及衛生標準嚴格且遵守苛刻規章制度的制藥業(yè)。 為了保證代表性取樣,無(wú)論是中試規模還是商業(yè)規模,定制的工藝界面可滿(mǎn)足客戶(hù)的需求。 每款I(lǐng)nsitec干法系統均具有以下特點(diǎn):
Insitec干法在線(xiàn)粒度儀工作原理
概述
所有 Insitec 的安裝均依照*的應用要求量身定制。 該系統包含從簡(jiǎn)單的近線(xiàn)手動(dòng)操作系統到全自動(dòng)運行系統,可為連續監測及多元控制提供可靠的在線(xiàn)解決方案。 馬爾文公司與客戶(hù)通力合作,無(wú)論何時(shí)何地,均可為客戶(hù)提供專(zhuān)業(yè)知識、硬件及軟件服務(wù)。 在成功完成項目的同時(shí),確保了成本效益與良好的投資回報。
成功因數
工藝分析的成功取決于三個(gè)關(guān)鍵部分的仔細考量:
工藝界面
Insitec 系統是工藝設備系統,在工廠(chǎng)環(huán)境中運行。 正確選擇儀器與工廠(chǎng)之間的界面是確保長(cháng)期*運行的基礎。
Malvern Panalytical 擁有在多種干式應用中經(jīng)過(guò)驗證的技術(shù)。 從用于每小時(shí)100噸及以上流量的兩級式螺旋取樣系統,到靜態(tài)采樣器、簡(jiǎn)便的分散器以及采樣管用于較低流量,一應俱全。 成熟的技術(shù)確保代表性樣品以適當的分散狀態(tài)及分析濃度被自動(dòng)*地傳遞至測量區域。
Insitec在線(xiàn)系統與工藝流程共同運行并具有手動(dòng)界面。 對于自動(dòng)化連續運行,Insitec安裝于工藝管道內或相關(guān)的采樣支路上。
在適合的分散狀態(tài)下進(jìn)行測量,確保獲取相關(guān)的數據,無(wú)論是想要了解的狀態(tài)是團聚顆粒還是單獨粒度。
每個(gè)測量點(diǎn)都可能需要一款的Insitec,或使用單個(gè)粒度儀監測多條線(xiàn)路或多項工藝步驟。 這取決于需要的測量頻率。
設計優(yōu)良的在線(xiàn)工藝界面:
樣品測量
Insitec 系統采用激光衍射技術(shù)快速測量顆粒粒度。 應用于干法系統時(shí),可在一秒鐘內對完整的顆粒粒度分布進(jìn)行測量,從而提供瞬時(shí)監測。 即使是具有快速動(dòng)態(tài)的工藝,也可進(jìn)行有效追蹤。
Insitec系統可直接測量工藝流。 一些工藝中,顆粒負載率或濃度可能在例行操作過(guò)程中發(fā)生變化。 這對許多顆粒測量系統而言是一項挑戰,同時(shí)會(huì )對測量的顆粒粒度產(chǎn)生不利影響。 然而,所有Insitec系統安裝的多重散射校正專(zhuān)li可確保測量的粒度變化始終真實(shí)可靠。 此類(lèi)計算程序在檢測前對與幾個(gè)顆粒相互作用的光源濃度影響進(jìn)行算術(shù)糾正。 因此,所有測量與樣品濃度無(wú)關(guān)。
Insitec可為所有粒度分布提供可靠、及時(shí)、完整的數據。 無(wú)論是人工控制還是自動(dòng)控制,這些數據均為更好的工藝控制奠定了穩固的基礎。
數據顯示和使用
Insitec 系統與現有的控制系統整合。 典型情況下,該系統由中央控制室操作,并依據測量的結果制定例行決策。 強大的軟件包使整合與數據分析更為簡(jiǎn)單明了。
Malvern Link II軟件具有將Insitec與現有控制系統以及與自動(dòng)化工藝控制進(jìn)行整合的功能。 允許分析員從電腦或現有的控制模擬系統進(jìn)行操作。 重要的是,Malvern Link II并非僅限于Insitec整合。 該軟件還可輕松地進(jìn)行其它儀器類(lèi)型的整合,簡(jiǎn)化多元控制。
RTSizer軟件采用清楚易懂的方式顯示測量數據。 結果報告可按照工業(yè)及客戶(hù)標準定制,從而改善信息流。 Insitec數據用于:
由于報告了完整的粒度分布,因此監測與控制可以以任何粒級為基礎,例如:3至30微米粒級的細粉末,超過(guò)200微米的材料等。 Insitec數據可優(yōu)化人工控制策略并使工藝控制實(shí)現*自動(dòng)化,從而提供豐厚的經(jīng)濟效益。
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